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Nanofoot产品成半导体激光器性能测试利器色环电阻

时间:2022年09月16日

Nanofoot产品成半导体激光器性能测试利器

Nanofoot产品成半导体激光器性能测试利器 2011: 从20世纪70年代末开始,半导体激光器明显向着两个方向发展,一类是以传递信息为目的的信息型激光器。另一类是以提高光功率为目的的功率型激光器。在泵浦固体激光器等应用的推动下,高功率半导体激光器(连续输出功率在100W以上,脉冲输出功率在5W以上,均可称之谓高功率半导体激光器)在20世纪90年代取得了突破性进展,其标志是半导体激光器的输出功率显著增加,国外千瓦级的高功率半导体激光器已经商品化,国内样品器件输出已达到600W。由于高功率半导体的应用越来越多的被发掘,高功率半导体激光器的品质已经成为大家越来越关心的问题。Nanofoot公司的半导体激光测试设备是半导体激光器性能检测的利器,也成为半导体激光器研发和生产过程中的关键环节。他们自身在开发类似设备上的丰富经验让他们的产品更方便,更可靠,且集成多种功能,几乎能测量半导体激光器的所有参数和封装性能,如LIV曲线,远场特性,光谱分析,smile效应,温度特性,Visual inspection(近场特性)等。LIV曲线包含光强,电压,斜效率等特征参数,是表征半导体激光器在不同工作条件下的变化趋势,用于考察半导体的电光转换效率和性能稳定性。

无论是作为泵浦源还是直接作用于工作物质,功率与波长都是半导体激光器最重要的两个参数指标。Nanofoot的LDC5000集成了单发光点半导体重要参数的检测手段,把烦琐的的参数设置,交给系统自动完成,操作,并最终获得不同温度,不同电流下的各种参数曲线。此外,Nanofoot半导体检测设备高度集成化的优点,使其应用更灵活,例如,FF360可作为独立检测单元可专门用来检测单发光点的远场特性,也可集成到LDC5000等多功能系统中。远场特性反映的是远场光斑的横向强度分布。FF360用高速扫描的方式获得半导体激光的强度信息。扫描角度分辨率最高可达到0.03°,扫描速度可达每秒300°或者700个采样点。

以上是扫描获得的远场二维图象,此外,FF360还可获取三维视图,使信息更直观。强大的软件系统,界面简洁却功能强大,易于操作而内容丰富,可输出多种格式(CSV, PDF, PNG, PS, XML)。

相对于单发光点半导体来说,多发光点的巴条的结构更复杂,因此,性能分析也更复杂。如果要快速检测wafer或巴条性能,以判断其合格与否,LPT1000是不错的选择。该款检测设备能够快速检测各发光点,且性价比很高,是芯片生长控制的有效手段。(end)

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